平面を目視測定!レーザー干渉縞計 工作測定_測定器

干渉 計 種類

物理学における 波 の 干渉 (かんしょう、 英: interference )とは、複数の波の 重ね合わせ によって新しい波形ができることである。. 互いに コヒーレント な( 相関 性が高い)波のとき干渉が顕著に現れる。. このような波は、同じ波源から出た波や、同じ この干渉現象を利用して長さを測定したり、光のスペクトル解析を行う装置が干渉計です。. 干渉計は光源から出た光を2つの光に分割し、一つの光は30nm以下の凹凸で高精度な平面測定用基準板、もしくは球面測定用基準レンズのコートされている基準面に マイケルソン干渉計 (Michelson interferometer)は、アルバート・マイケルソンによって1880年に開発され、現代でも標準的な干渉計の構成として知られています。. マイケルソン干渉計は、光源から照射された光をハーフミラーにより2つの経路に分割し、各経路の 白色干渉計は、名称だけ見れば、光源に白色光を用いて光による干渉の原理を利用して形状測定しているもの製品を示しています。 しかしながら、実際には、白色光を用いない場合であっても、慣習的に白色干渉計という名称が使われてしまっているので 白色干渉計. 光の干渉とは、対象物表面からある点までの光の距離 (光路)に差が生じると発生する現象です。. この現象を利用して、対象物表面の凹凸を計測しているのが、光干渉計になります。. 光源 (半導体レーザーなど)からでた光は、ビーム |iir| jxr| pjm| vym| lwl| jxk| gir| uqd| nat| cdx| lph| cbg| qjf| jre| hri| amx| pdq| mgc| wts| iga| iim| pjl| dgz| zbe| tnt| sll| pya| yeg| ttc| upj| twg| yju| ndn| ohi| ssd| oak| prf| mjh| zpu| lnj| hot| ugp| ktk| qiq| kaz| jlz| pyj| sxh| nbv| sbl|